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太阳能/半导体
通用仪器耗材及检测服务
反射膜厚仪是一种非接触式、快速的光学薄膜厚度测量技术。
MProbe Vis薄膜测厚仪对大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
MProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域
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反射膜厚仪
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反射膜厚仪
反射膜厚仪
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