纳米力学测试系统
TI980是多样化的纳米力学表征工具，是高校、研究所及工业界用户的选择
反射膜厚仪
MProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
反射膜厚仪
采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域
光学轮廓仪系统
光学轮廓仪系统适用于科研和生产的高质量表面测量手段ContourGT-I3D光学显微镜将三.....
三维表面测量系统
布鲁克NPFLEX 三维表面测量系统为大样品的表面表征测量提供了灵活的非接触式的方案，超过.....
扫描探针显微镜
同类AFM中具有很低的噪音水平和很高的分辨率Innova扫描探针显微镜（SPM）
电话：86-021-37018108
传真：86-021-57656381
邮箱：info@boyuesh.com
地址：上海市松江区莘砖公路518号松江高科技园区28幢301室
